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In-situ UV Analysis
In-situ UV-Vis-NIR Analysis
반응 환경이 변화하는 동안 Optical Property의 변화를 추적합니다.
In-situ UV-Vis-NIR Analysis는 Temperature, Gas / Atmosphere, Electrical Bias 등 실험 조건을 변화시키면서 Absorption, Transmission 및 Reflection Spectrum을 반복 측정하여 시료의 Optical Change를 시간에 따라 관찰하는 분석 방법입니다.
JASCO UV-Vis-NIR Spectrophotometer를 이용한 Bulk Measurement부터, MSV Series를 이용해 특정 Micro-area의 변화를 추적하는 Microscopic In-situ Measurement까지 연구 목적에 따라 다양한 구성이 가능합니다.
Static Spectrum에서 Dynamic Optical Analysis로
일반적인 UV-Vis-NIR Measurement가 특정 상태의 Optical Property를 측정한다면, In-situ Measurement는 실험 환경이 변화하는 동안 Absorbance, Absorption Edge, Transmission 및 Reflection이 어떻게 변하는지를 연속적으로 비교합니다.
In-situ UV-Vis-NIR로 무엇을 볼 수 있을까요?
Absorption Change
외부 조건 변화에 따른 Absorbance 및 Absorption Edge를 추적합니다.
Transmission / Reflection
Film, Crystal, Powder 및 Functional Material의 Optical Response를 비교합니다.
Phase / State Change
Temperature 또는 외부 자극으로 발생하는 Optical Transition을 관찰합니다.
Micro-area Dynamics
특정 위치를 선택하여 Local Optical Property의 변화를 추적합니다.
연구 목적에 따라 Measurement Geometry를 선택합니다.
Sample 형태와 필요한 Experimental Environment에 따라 Diffuse Reflection, Transmission / Reflection 또는 Micro-area Measurement를 구성합니다.
Powder, Catalyst 및 Diffuse Surface Sample을 대상으로 Temperature와 Gas / Atmosphere 조건을 변화시키면서 Diffuse Reflection Spectrum을 측정합니다.
Thermochromic Material, Catalyst 및 Gas-Solid Interaction과 같이 환경 변화에 따른 Optical Response 연구에 활용할 수 있습니다.
Film, Crystal 및 Semiconductor Sample을 Heating / Cooling 또는 Cryogenic Environment에서 측정하여 Temperature-dependent Transmission 및 Reflection 변화를 추적합니다.
저온에서의 Optical Transition, Absorption Edge 및 Temperature-dependent Optical Property 연구에 적용할 수 있습니다.
JASCO MSV Series를 이용하여 Wafer, Thin Film, Crystal 및 Micro-device의 특정 영역을 선택하고 동일 위치의 Transmission / Reflection 변화를 추적합니다.
Environmental Cell 또는 Stage를 결합하면 Temperature, Gas, Electrical Bias 등 외부 조건 변화에 따른 Local Optical Property 연구로 확장할 수 있습니다.
MSV를 이용한 새로운 In-situ 접근
“변화가 일어나는가?”에서
“어느 위치에서 변화가 일어나는가?”로
일반 UV-Vis-NIR Spectrophotometer는 비교적 넓은 영역의 평균적인 Optical Property를 측정합니다. MSV Series는 Microscope Optical System을 이용하여 특정 Micro-area의 Transmission / Reflection Spectrum을 측정할 수 있습니다.
이를 Environmental Stage와 결합하면 동일 위치를 유지한 상태에서 Temperature, Gas, Electrical Bias 등의 조건을 변화시키며 Local Optical Property의 Dynamic Change를 추적할 수 있습니다.
JASCO MSV-5000 Series →다양한 Experimental Condition으로 확장할 수 있습니다.
Temperature
Heating / Cooling에 따른 Optical Property 변화
Cryogenic
저온 조건에서의 Optical Transition 및 Temperature Dependence
Gas / Atmosphere
Reactive / Inert Atmosphere 변화에 따른 Optical Response
Electrical Bias
Voltage 변화에 따른 Micro-device 및 Functional Material의 Optical Response
연구 목적과 Accessory Configuration에 따라 Vacuum / Pressure, Humidity, Light Irradiation 및 기타 Controlled Environment로 확장하여 검토할 수 있습니다.
3rd-party Environmental Accessory와 결합합니다.
Spectrometer + Measurement Geometry + Experimental Environment
UV-Vis-NIR용 Diffuse Reflection Reaction Cell, Heating / Cooling Stage, Cryostat, Gas / Atmosphere Cell, Electrical Probe Stage 등 다양한 3rd-party Accessory를 이용하여 연구 목적에 맞는 In-situ Measurement Environment를 구성할 수 있습니다.
실제 System Configuration은 Wavelength Range, Objective Working Distance, Optical Window, Measurement Geometry, Temperature / Pressure 조건 및 Sample Size를 기준으로 검토합니다.
※ PIKE Technologies, Harrick Scientific, Oxford Instruments, Linkam 등은 적용 가능한 3rd-party 제조사 예시이며, 본 표기는 JASCO 또는 티에스싸이언스와의 공식 제휴 관계를 의미하지 않습니다. 실제 적용 가능 여부는 장비 및 실험 조건에 따라 별도 검토가 필요합니다.
어떤 조건에서 Optical Change를 관찰하고 싶으신가요?
Sample 형태와 Measurement Area, Temperature Range, Gas / Atmosphere, Electrical Condition 및 필요한 Wavelength Range를 알려주시면 일반 UV-Vis-NIR부터 MSV 기반 Micro-area In-situ까지 적합한 Measurement Configuration을 검토해드립니다.
