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반도체 박막, 디스플레이 광학 필름, 나노 입자 및 이차전지 소재 연구까지. JASCO V-700 시리즈는 자외선(UV)부터 가시광선(Vis), 근적외선(NIR) 영역(최대 3,200nm)까지 아우르는 압도적인 스펙트럼 분석을 제공합니다. 60년 이상의 일본 최고 분광 기술이 집약된 고감도 검출기와 탁월한 광학계를 통해 극미량 액체 시료부터 고체 분말, 코팅 필름의 투과/흡광/반사율까지 가장 완벽하고 신뢰할 수 있는 데이터를 도출합니다.
V-730 : 액체(Liquid) 및 필름(Film) 시료의 기본 투과도, 흡광도 정밀 측정
V-750 / V-760 / V-770 / V-780 : 액체 및 필름은 물론, 고체(Solid)와 분말(Powder) 시료의 투과도, 흡광도, 그리고 반사도(Reflectance)까지 모두 측정 가능 (디스플레이 코팅막 및 반도체 반사율 분석 최적화)
V-730 (표준형): 190~1100 nm 범위를 커버하는 컴팩트한 이중빔(Double-beam) 모델. 일상적인 품질 관리(QC), 교육 및 기초 연구에 최적화된 스탠다드 분광광도계입니다.
V-750 (고감도 PMT): 고감도 광전자증배관(PMT) 검출기를 탑재하여 미량 샘플 및 극저농도 시료에서도 노이즈 없는 선명하고 정확한 데이터를 제공합니다.
V-760 (초고해상도): 이중 단색화 장치(Double Monochromator)를 적용하여 미광(Stray light)을 극한으로 차단했습니다. 6 Abs 이상의 뛰어난 광도 선형성을 제공하여 차광 필름 및 고농도 광학 소재 연구에 필수적인 모델입니다.
V-770 (광대역 NIR): PbS 검출기를 채택하여 190nm부터 최대 3,200nm(근적외선) 영역까지 단 하나의 장비로 커버하는 광범위 스펙트럼 분석의 최강자입니다.
V-780 (고감도 NIR 특화): InGaAs 검출기와 펠티어 저온 냉각 시스템을 탑재하였습니다. 1600nm 이하의 근적외선(NIR) 대역에서 V-770 대비 월등히 높은 측정 감도와 장기 안정성을 자랑합니다.
| JASCO Spectrophotometer | |||||
| Model | V-730 | V-750 | V-760 | V-770 | V-780 |
|---|---|---|---|---|---|
| Detector | Silicon Photodiode | PMT | PMT | PMT, PbS | PMT, InGaAs |
| Wavelength Range | 190 ~ 1100 nm | 190 ~ 900 nm | 187 ~ 900 nm | 190 ~ 2700 nm (~ 3200 nm, Option) |
190 ~ 1600 nm |
| Wavelength Accuracy | ±0.2 nm | ±0.2 nm | ±0.1 nm | ±0.3 nm (UV-Vis) ±1.5 nm (NIR) |
±0.3 nm (UV-Vis) ±1.0 nm (NIR) |
| Spectral Bandwidth | 1.0 nm (fixed) | 1.0~10 nm | 1.0~10 nm | 1.0~10 nm | 1.0~10 nm |
