Product

FTIR Spectroscopy

첨단 소재 분석의 완성, JASCO 차세대 FT/IR-X 시리즈

단순한 화합물 식별을 넘어, 반도체 불량 분석, 이차전지 소재 특성 평가, 고기능성 폴리머 및 나노 박막(Thin Film) 분석까지. JASCO FT/IR-X 시리즈는 최상위 R&D 센터와 대학 연구실에서 요구하는 압도적인 신호대잡음비(S/N Ratio)와 뛰어난 파장 확장성을 제공합니다. 독자적인 광학 설계와 직관적인 인터페이스를 통해 마이크로 단위의 미세 이물질부터 극미량의 가스 분석까지 가장 신뢰할 수 있는 스펙트럼 데이터를 보장합니다.

JASCO FT/IR-X 시리즈만의 독보적 핵심 강점
  • 탁월한 광학 안정성: 특허받은 코너 큐브 간섭계로 외부 진동을 차단하여 영구적인 데이터 재현성을 보장합니다.
  • 압도적 고감도 및 고분해능: 55,000:1의 S/N 비와 0.07 cm⁻¹ 초고해상도로 미세한 분자 구조까지 완벽히 분석합니다.
  • 유지보수의 혁신 (KRS-5): 수분에 강한 KRS-5 윈도우를 기본 장착하여 잦은 제습제 교체 등 관리의 번거로움을 없앴습니다.
  • 무한한 스펙트럼 확장성: 근적외선부터 원적외선(25,000~20 cm⁻¹)까지 단일 시스템으로 광범위한 분석 확장이 가능합니다.
  • 진공(Vacuum) 시스템 지원: 진공 광학계 옵션으로 대기 중 수분 간섭을 완벽히 배제하여 초미량 가스 분석에 최적화되었습니다.
연구 목적에 맞춘 라인업 (FT/IR-X Series)
  • FT/IR-4X: 공간 활용성이 뛰어난 연구실 표준 모델로, 일상적인 품질 관리(QC) 및 범용 분석에 최적화되었습니다.
  • FT/IR-6X: 고감도 검출기 연동과 우수한 S/N 비를 통해 저농도 가스 분석 및 실시간 반응 모니터링을 지원하는 하이엔드 모델입니다.
  • FT/IR-8X: 초고해상도 분석과 진공(Vacuum) 시스템 구성이 가능한 최상위 플래그십 모델로, 첨단 광학/반도체 R&D에 적합합니다.
다양한 시료 분석을 위한 맞춤형 액세서리 (Accessories)

JASCO FT/IR은 고체, 액체, 기체 등 어떠한 형태의 시료라도 완벽하게 분석할 수 있는 폭넓은 샘플링 옵션을 제공합니다.

  • ATR 및 반사 액세서리: 번거로운 전처리 없이 시료 표면과 코팅 막을 즉각적으로 분석하는 맞춤형 반사 측정을 지원합니다.
  • 적외선 현미경 (IR Microscope): 마이크로미터(µm) 단위의 미세 이물질 및 다층 필름(Multi-layer) 단면 분석에 필수적인 시스템입니다.
  • 온도 제어 및 가스 셀: 극저온/고온 환경 제어 및 배기가스 분석용 가스 셀을 통해 실시간 반응 모니터링이 가능합니다.

 

Product Specification
FTIR Spectroscopy
Model FT/IR-4X FT/IR-6X FT/IR-8X
Standard Wavenumber Range 7,800 - 350 cm⁻¹
Optional Wavenumber Range 11,500 – 50 cm⁻¹ 25,000 - 20 cm⁻¹
Maximum Resolution 0.4 cm⁻¹ 0.25 cm⁻¹ 0.07 cm⁻¹
Signal-to-Noise Ratio (with KRS-5 windows) 35000:1 47000:1 55000:1

약관

약관내용