첨단 소재 분석의 완성, JASCO 차세대 FT/IR-X 시리즈
단순한 화합물 식별을 넘어, 반도체 불량 분석, 이차전지 소재 특성 평가, 고기능성 폴리머 및 나노 박막(Thin Film) 분석까지. JASCO FT/IR-X 시리즈는 최상위 R&D 센터와 대학 연구실에서 요구하는 압도적인 신호대잡음비(S/N Ratio)와 뛰어난 파장 확장성을 제공합니다. 독자적인 광학 설계와 직관적인 인터페이스를 통해 마이크로 단위의 미세 이물질부터 극미량의 가스 분석까지 가장 신뢰할 수 있는 스펙트럼 데이터를 보장합니다.
다양한 시료 분석을 위한 맞춤형 액세서리 (Accessories)
JASCO FT/IR은 고체, 액체, 기체 등 어떠한 형태의 시료라도 완벽하게 분석할 수 있는 폭넓은 샘플링 옵션을 제공합니다.
- ATR 및 반사 액세서리: 번거로운 전처리 없이 시료 표면과 코팅 막을 즉각적으로 분석하는 맞춤형 반사 측정을 지원합니다.
- 적외선 현미경 (IR Microscope): 마이크로미터(µm) 단위의 미세 이물질 및 다층 필름(Multi-layer) 단면 분석에 필수적인 시스템입니다.
- 온도 제어 및 가스 셀: 극저온/고온 환경 제어 및 배기가스 분석용 가스 셀을 통해 실시간 반응 모니터링이 가능합니다.