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Product
Raman Microscopes
NRS Series Confocal Raman Microscope
한 Point의 Spectrum에서 Chemical Imaging과 In-situ까지
Identification · Raman Imaging · Low-wavenumber · Multi-laser · In-situ
Raman 분석에서 중요한 것은 단순히 Spectrum을 얻는 것만이 아닙니다. 원하는 Micro Target을 정확하게 찾고, Sample에 맞는 Laser와 Measurement Condition을 선택하며, 필요한 경우 Chemical Distribution과 환경 변화에 따른 구조 변화까지 분석해야 합니다.
JASCO NRS Series는 Routine Raman Measurement부터 High-speed Imaging, Rough Surface Mapping, Low-wavenumber, Multi-laser, Polarization, In-situ 및 Correlative Spectroscopy까지 연구 목적에 맞춰 확장할 수 있는 Confocal Raman Platform입니다.
복잡한 Raman Measurement를 하나의 Workflow로
Find
Observation Image에서 분석할 Particle이나 Micro Area를 찾습니다.
Focus
Target Surface에 Measurement Focus를 정확하게 설정합니다.
Measure
Sample에 적합한 Laser와 Condition으로 Raman Spectrum을 측정합니다.
Image
Mapping을 통해 Component Distribution을 Chemical Image로 확인합니다.
Identify
Spectral Search와 Multivariate Analysis로 Component를 해석합니다.
필요한 기능보다 과한 장비가 아니라, 연구에 맞는 Raman Platform을 선택
NRS Series는 Routine Raman부터 Advanced Research와 High-resolution Spectroscopy까지 연구 목적에 따라 선택할 수 있습니다.
일상적인 Raman 분석에서 Chemical Imaging까지
Material Identification, Particle Analysis, QRI Mapping 등 일반적인 Raman Research와 Quality Control에 폭넓게 대응합니다.
연구 확장성과 In-situ를 위한 Platform
높은 Optical Performance와 다양한 Laser, Low-wavenumber, Temperature, Electrochemistry 등의 Advanced Research로 확장할 수 있습니다.
높은 Spectral Resolution이 필요한 Advanced Research
500 mm Spectrograph 기반으로 High-resolution, Low-wavenumber 및 다양한 Laser / Detector Configuration이 필요한 연구에 대응합니다.
Raman 분석에서 시간을 많이 쓰는 Setup 과정을 단순화
FocusNAV
Sample Surface를 탐색하여 Raman Measurement를 위한 Focus Position 설정을 지원합니다.
Focus · Sample SetupAdvanced Sample Search
Observation Image의 형태, 색상, Size 등의 정보를 이용하여 측정 대상 후보를 찾습니다.
Particle · Target SearchAdvanced Spectral Search
측정된 Raman Spectrum을 Reference Library와 비교하여 Component Identification을 지원합니다.
Spectrum → Search → IdentifyPoint Measurement에서 Chemical Distribution까지
Conventional Raman Mapping
Raman Mapping은 수많은 Measurement Point에서 Spectrum을 반복적으로 취득하므로 측정 범위와 Point 수가 증가하면 Measurement Time도 증가합니다.
따라서 넓은 Area와 작은 Step Size를 함께 사용하려면 효율적인 Stage Control이 중요합니다.
Quick Raman Imaging
QRI는 High-speed XYZ Stage와 고감도 Detector를 이용하여 Raman Mapping Workflow를 빠르게 수행하기 위한 기술입니다.
Point Spectrum뿐 아니라 Sample 내부의 서로 다른 Component Distribution을 Chemical Image로 확인할 수 있습니다.
평평하지 않은 Sample에서도 Surface Shape를 따라 Raman Imaging
일반적인 Raman Mapping은 Measurement Plane이 일정하다는 가정 아래 측정하기 때문에, 굴곡이나 높이 차이가 큰 Sample에서는 일부 영역의 Focus가 벗어나 Raman Signal이 약해질 수 있습니다.
Surface Topography와 Raman Mapping을 연결
SSI는 Sample Surface의 높이 정보를 먼저 확인하고, 굴곡이 있는 Surface를 따라 Focus를 유지하면서 Raman Measurement를 수행합니다.
올려주신 실제 예에서도 SSI를 사용하지 않은 경우 Concave / Convex 영역에서 Focus가 맞지 않아 Raman Signal이 약해지는 반면, SSI 적용 후에는 Surface Shape를 따라 Chemical Image를 얻을 수 있습니다.
이후 MCR과 같은 Multivariate Analysis를 이용하여 서로 다른 Component의 Distribution을 분리할 수 있습니다.
Uneven Surface
굴곡이 있거나 높이 차이가 큰 Sample에서도 Surface Profile을 고려합니다.
All-in-focus Imaging
서로 다른 Height의 Surface Position을 확인하여 전체 영역을 관찰합니다.
Chemical Distribution
Topography와 Raman Spectrum을 연결하여 3D Surface 위의 Chemical Distribution을 분석합니다.
Laser Wavelength가 바뀌면 같은 Sample의 Raman Spectrum도 달라집니다.
Raman Laser는 단순한 Light Source가 아닙니다. Raman Intensity, Fluorescence, Penetration Depth 및 Sample Damage 가능성에 영향을 주기 때문에 Sample 특성에 맞는 Wavelength Selection이 중요합니다.
Fluorescence가 강하다면 Longer Wavelength를 검토
올려주신 비교 Spectrum에서는 같은 Sample을 532 nm, 785 nm, 1064 nm로 측정했을 때 Background와 Raman Peak의 형태가 크게 달라지는 것을 확인할 수 있습니다.
Visible Laser에서는 Sample에 따라 강한 Fluorescence Background가 나타날 수 있으며, 785 nm 또는 1064 nm와 같은 Longer Wavelength를 이용하면 Fluorescence 간섭을 줄일 수 있는 경우가 있습니다.
반대로 Shorter Wavelength는 Raman Scattering Efficiency와 Spatial Resolution 측면에서 유리할 수 있기 때문에 Sample과 연구 목적을 함께 고려해야 합니다.
Sample에 맞춰 Laser를 선택하고, 필요하면 Multi-laser System으로 확장
Carbon Material, Semiconductor, Polymer, Pharmaceutical, Pigment와 같이 Sample 종류가 달라지면 적합한 Excitation Wavelength도 달라질 수 있습니다.
NRS Series는 Visible부터 NIR 영역까지 다양한 Laser Configuration을 지원하여, 한 가지 Wavelength만으로 해결하기 어려운 Research Application에 대응할 수 있습니다.
Molecular Vibration에서 Crystal과 Lattice Information까지
Rayleigh Line에 가까운 Low-energy Raman Mode 측정
일반적인 Raman Measurement에서는 강한 Rayleigh Scattering 때문에 매우 낮은 Raman Shift 영역의 측정이 제한될 수 있습니다.
Low-wavenumber Configuration을 이용하면 Crystal Lattice, Intermolecular Interaction, Polymorph 및 Low-energy Vibrational Mode 연구로 Raman Analysis를 확장할 수 있습니다.
Sample 형태에 맞춰 Measurement Geometry도 확장
SSI
Rough, Curved, Tilted Surface의 Height Profile을 고려한 Raman Imaging.
SPRinTS
Stage Movement보다 Laser Position Scan이 적합한 Liquid 또는 움직이기 쉬운 Sample에 활용합니다.
Macro Raman
Powder, Vial, Liquid 등 Microscope Objective에 제한되지 않는 Measurement로 확장합니다.
Fiber Probe
Stage에 올리기 어려운 Sample이나 Remote Measurement가 필요한 경우 Probe Measurement로 확장합니다.
Sample을 꺼낸 후가 아니라, 변화가 일어나는 동안 Raman으로 측정
Temperature
Heating / Cooling Stage와 조합하여 Temperature에 따른 Phase 및 Molecular Structure 변화를 추적합니다.
Electrochemistry
Electrochemical Cell을 이용하여 Potential이나 Charge State에 따른 Material Structure 변화를 분석합니다.
Reaction Environment
적합한 Cell과 Long Working Distance Objective를 이용하여 Reaction Environment에서 Raman Measurement를 수행합니다.
FTIR에서 확인한 그 위치를 Raman에서 다시 분석
IQ Frame — One Sample · Same Position · Different Spectroscopy
FTIR과 Raman은 서로 다른 Selection Rule을 이용하기 때문에 같은 Sample에서도 서로 다른 Molecular Information을 제공합니다.
IQ Frame을 이용하면 FTIR Microscope에서 측정한 Micro Target의 위치를 Raman Microscope와 공유하여 동일 영역을 다시 분석할 수 있습니다.
이를 통해 Organic / Polymer Information과 Crystal / Inorganic Information을 상호 보완적으로 해석할 수 있습니다.
Raman Spectrum을 얻기 전에 Sample을 제대로 보는 것부터
Bright Field
일반적인 Sample Observation과 Measurement Position Selection에 사용합니다.
Dark Field / MIX
Surface Defect, Particle 및 미세한 형태 차이를 보다 쉽게 관찰합니다.
Polarization
Crystal, Birefringence 및 Orientation 관련 Optical Information을 관찰합니다.
DIC
투명하거나 Contrast가 작은 Sample의 미세한 Surface와 높이 차이를 관찰합니다.
Surface Information을 더 명확하게 관찰
다양한 Material Research에 적용되는 Raman Spectroscopy
Battery
Electrode, Carbon Material 및 Charge State에 따른 구조 변화를 분석합니다.
Semiconductor
Crystal, Stress, Defect 및 Micro Area의 Material Information을 분석합니다.
Carbon Materials
Graphene, Graphite, CNT 및 DLC의 Structure와 Disorder를 평가합니다.
Catalyst
Catalyst Surface와 Reaction Condition에 따른 Structural Change를 연구합니다.
Polymer
Polymer, Additive, Pigment 및 Foreign Material을 분석합니다.
Pharmaceutical
API, Excipient, Polymorph 및 Tablet 내부 Distribution을 분석합니다.
Crystal / Mineral
Crystal Phase, Mineral Component 및 Low-wavenumber Mode를 분석합니다.
Foreign Material
Micro Particle과 Inorganic / Organic Contamination을 Identification합니다.
연구 목적에 따른 NRS Series 선택
| Model | Position | Low-wavenumber | 주요 연구 방향 |
|---|---|---|---|
| NRS-4500 | Routine / Raman Imaging | Standard / Optional Extension | Identification · QRI · Particle · General Materials |
| NRS-5500 | Advanced Research | Extended Low-wavenumber | Mapping · Multi-laser · In-situ |
| NRS-5600 | Advanced + Low-wavenumber | Low-wavenumber Research | Crystal · Lattice · In-situ · Advanced Materials |
| NRS-7500 | High Resolution | Extended | High Resolution · Advanced Spectroscopy |
| NRS-7600 | High Resolution + Low-wavenumber | Ultra Low-wavenumber | Crystal · Lattice · Low-energy Raman Mode |
※ 세부 수치는 각 NRS Model 페이지에서 실제 Configuration 기준으로 안내하는 것을 권장합니다.
현재 필요한 Spectrum뿐 아니라, 앞으로 하고 싶은 Experiment까지 고려합니다.
처음에는 단순한 Material Identification이 목적일 수 있습니다. 그러나 연구가 확장되면 Raman Mapping, Rough Surface Imaging, Multi-laser, Low-wavenumber, Temperature, Electrochemistry와 같은 새로운 Measurement가 필요할 수 있습니다.
NRS Series는 Point Measurement → Chemical Imaging → In-situ → Correlative Analysis 로 연구 범위를 확장할 수 있는 Raman Platform으로 구성할 수 있습니다.
어떤 Raman 구성이 연구에 필요한지 고민하고 계신가요?
Sample 종류, Fluorescence 정도, 필요한 Laser, Mapping Area, Low-wavenumber 여부와 In-situ Experiment 조건을 알려주시면 연구 목적에 맞는 NRS System 구성을 검토해드립니다.
NRS Series 모델 보기 →
