Foreign Material · Particle · Multilayer Film · Chemical Imaging
FTIR Microscope는 눈으로 관찰하기 어려운 μm 크기의 미세 영역에서 IR Spectrum을 측정하여 물질의 Chemical Composition과 Component Distribution을 분석하는 시스템입니다.
JASCO IRT-X Series는 단순한 Point Measurement를 넘어 자동 Mapping, ATR Imaging, Foreign Material Identification 및 Chemical Imaging까지 Micro FTIR Analysis를 확장합니다.
일반 FTIR은 Sample 전체의 평균적인 Chemical Information을 얻는 데 적합하지만, 이물, Particle, Defect 또는 Multi-layer 구조처럼 분석 위치가 중요한 경우에는 Micro FTIR이 필요합니다.
Microscope Image에서 관심 영역을 선택하고 해당 위치의 Spectrum을 측정하거나, 영역 전체를 Mapping하여 특정 Chemical Component의 분포를 Color Image로 확인할 수 있습니다.
제품이나 소재 표면의 미세 이물을 선택하여 Chemical Identity를 분석합니다.
Particle별 Spectrum과 크기 및 형태 정보를 결합하여 Component를 분류합니다.
Packaging Film 및 Multi-layer Material의 Layer별 Composition을 분석합니다.
PCB 및 Electronic Component에 존재하는 미세 오염이나 이물 영역을 분석합니다.
특정 Peak 또는 Component의 Spatial Distribution을 Color Map으로 시각화합니다.
Polymer, Fiber 및 미세 구조의 Composition과 Orientation을 분석합니다.
Particle의 Chemical Identity와 크기 정보를 결합하여 Microplastic을 분석합니다.
정상 영역과 Defect 영역의 Spectrum을 비교하여 Chemical Difference를 확인합니다.
분석 목적과 필요한 Mapping Speed에 따라 Single-element 중심의 IRT-5X와 Multi-channel Imaging 중심의 IRT-7X를 선택할 수 있습니다.
IRT-5X는 새롭게 설계된 Optical System과 Mid-band MCT Detector를 기반으로 미세 영역에서 높은 감도의 FTIR Measurement를 수행합니다.
5 MP Observation Camera, Auto Focus, Automatic XYZ Stage, IQ Mapping 및 다양한 Detector Option을 이용하여 Routine Micro Analysis부터 Advanced Mapping까지 확장할 수 있습니다.
IRT-7X는 16-channel Linear Array MCT Detector와 Mid-band MCT Detector를 기본으로 구성하여 Point Measurement와 고속 Infrared Imaging을 하나의 System에서 수행합니다.
Linear Array의 각 Channel을 독립적으로 최적화하고 동시에 처리하여 많은 Measurement Point를 빠르게 측정하며, Mapping 중 Chemical Image를 Real-time으로 확인할 수 있습니다.
16개의 Detector Channel에서 IR Signal을 동시에 처리하여 Mapping 및 Imaging Measurement를 빠르게 수행합니다.
FTIR Rapid Scan과 결합하여 고속 데이터 취득이 가능하며, 많은 Measurement Point가 필요한 Imaging에 적합합니다.
Mapping Measurement 중에도 Spectrum과 지정 Wavenumber의 Chemical Image를 Real-time으로 확인할 수 있습니다.
고해상도 Observation Camera와 개선된 Optical System을 통해 미세 이물과 Measurement Area를 보다 명확하게 관찰합니다.
Point, Line, Area Mapping 및 Multi-point Measurement를 자동 Stage와 함께 수행합니다.
Particle의 Chemical Component와 함께 Size, Area, Circularity, Aspect Ratio 등의 정보를 분석할 수 있습니다.
JASCO IQ Mapping은 Galvanometer 방식으로 IR Beam을 Sample Surface 위에서 2차원으로 Scan하여 Mapping Measurement를 수행하는 기술입니다.
ClearView ATR과 조합하면 ATR Crystal과 Sample이 접촉된 상태에서 Sample Image를 확인하면서 ATR Mapping을 수행할 수 있습니다.
특히 Liquid 내부의 Particle이나 접촉 과정에서 움직일 가능성이 있는 Foreign Material Analysis에 유용합니다.
IRT-7X는 JASCO FT/IR-4X, FT/IR-6X 및 FT/IR-8X와 조합하여 사용할 수 있으며, 연구 목적에 따라 FTIR 본체와 Detector 및 Microscope Option을 구성할 수 있습니다.
Transmission, Reflection 및 ATR Measurement를 기반으로 다양한 Micro FTIR Application으로 확장할 수 있습니다.
Sample 크기, 형태, Point Measurement 또는 Mapping 여부와 필요한 분석 속도를 알려주시면 IRT-5X / IRT-7X와 FT/IR-X Series의 적합한 System 구성을 검토해드립니다.
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