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IRT-5X는 JASCO의 차세대 FTIR 현미경으로, 관찰(Observation), 측정(Measurement), 사용성(Usability)의 전 영역에서 성능을 대폭 향상시킨 최신 모델입니다.
기존 IRT-5000 시리즈의 검증된 광학 설계를 기반으로, 고해상도 가시광 관찰 이미지, 혁신적인 IQ Mapping 기술, 그리고 직관적인 소프트웨어 환경을 결합하여 일상적인 미세 분석부터 고급 연구 분석까지 폭넓게 대응합니다.
• 고해상도 관찰 이미지 기반의 정확한 측정 위치 선정
• 초미세 영역 분석을 위한 고감도 IR 측정 성능
• 사용자 부담을 최소화한 직관적 조작 환경
IRT-5X는 500만 화소(5M pixel)의 고해상도 CMOS 카메라와 새롭게 설계된 광학계를 적용하여, 선명하고 대비가 우수한 관찰 이미지를 제공합니다. 전동식 아이리스(electric iris)는 불필요한 산란광을 억제하여, IR 측정에 영향을 주지 않으면서 정확한 시각적 관찰을 가능하게 합니다.
• 5M pixel 고해상도 가시광 카메라
• 전동 아이리스 적용으로 고대비 관찰 이미지 확보
• Auto-focus, Auto-brightness 기능 기본 탑재
• IQ Monitor를 통한 관찰 이미지와 IR 스펙트럼 동시 확인
IRT-5X는 JASCO 특허 기술인 IQ Mapping을 통해, 샘플 스테이지를 이동하지 않고도 Transmission, Reflection, ATR 매핑 분석을 수행할 수 있습니다. 향상된 광학계와 다양한 검출기 옵션을 통해 매우 작은 샘플에서도 안정적이고 재현성 높은 IR 분석이 가능합니다.
• IQ Mapping 기술(JASCO 특허)
• 최대 4개의 검출기 동시 장착 및 소프트웨어 전환
• 표준 Mid-band MCT 검출기 (최대 ~550 cm⁻¹ 저파수 측정)
• IQ Duo MCT 검출기 옵션으로 샘플 크기에 따른 자동 감도 최적화
• 초미세 영역 및 저파수 영역의 고감도 분석
새롭게 설계된 마이크로 분석 전용 소프트웨어는 관찰 이미지, 측정 조건, 분석 결과를 하나의 화면에서 확인할 수 있도록 구성되어, 초보자부터 숙련된 사용자까지 모두 쉽게 활용할 수 있습니다.
• 대형 아이콘 기반의 직관적인 UI
• IQ IR NAV를 이용한 자동 샘플 인식 및 측정 위치 등록
• Advanced Search NAV를 통한 실시간 스펙트럼 식별
• 매핑 측정 중 스펙트럼 및 화학 이미지 실시간 표시
IRT-5X는 다양한 In-situ 연구 환경에 대응할 수 있도록 설계되었으며, Linkam temperature-controlled stage와 연동하여 가열, 냉각, 온도 제어 조건 하에서의 실시간 FTIR 미세 분석이 가능합니다.
이를 통해 재료의 상변화, 반응 거동, 열적 특성 변화를 현미경 수준에서 직접 관찰하며 IR 스펙트럼으로 분석할 수 있어, 고분자, 배터리 소재, 촉매, 반도체 및 에너지 소재 연구에 매우 유용합니다.
• Linkam stage 연동 In-situ FTIR 미세 분석 가능
• 온도 제어 조건 하에서 실시간 관찰 및 IR 측정
• 소재 반응 및 구조 변화의 동시 관찰·분석
IRT-5X는 기존 IRT-5100/5200에 비하여 높은 성능의 향상을 이루어낸 업그레이드 솔루션이며, FT/IR-4X, 6X, 8X 시리즈와의 완벽한 호환성을 통해 차세대 FTIR 현미경 분석 환경을 제공합니다.
